Talos F200X G2 TEM
适用于高分辨率 TEM 和 STEM 表征以及准确化学定量的 TEM 显微镜。
Thermo Scientific Talos F200X (S)TEM 是一款（扫描）透射电子显微镜，其将出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像与业界领先的能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测相结合。采用构合映射的 2D/3D 化学表征由 4 个内置 SDD Super-X 探头执行。Talos F200X (S)TEM 在所有维度下均可实现最快速精确的 EDS 分析，以及在进行动态显微镜检查时实现导航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X (S)TEM 还具有较低的环境敏感度；仪器外壳可调节 TEM 室中空气压力波、气流和细微温度变化的影响。
(S)TEM 成像和化学分析的高分辨率和高通量
Talos F200X (S)TEM 可在多维度下对纳米材料进行快速、精确的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的创新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半导体以及工业环境高级研究和分析的理想选择。
最近对在高分辨率下进行大面积相关性成像的需求有所增加，因为这使研究人员在获得统计学上稳定的数据的同时也能保留其观测结果的背景。Thermo Scientific Maps 软件（由 Thermo Scientific Velox 软件启用）自动采集样品的一系列图像，并将它们拼接在一起以形成一幅大尺寸最终图像。图像采集甚至可以在无人值守的情况下执行。
Thermo Scientific Avizo 软件让研究人员可以通过自动话工作流程进行即时处理来执行图像分析，以及生成纳米颗粒大小、表面积、周长、分布和化学成分等统计数据。来自不同显微镜的图像和化学信息可以关联起来以保留相关背景。
Align Genie 自动化软件减轻了新手操作员的学习负担，缓解了多用户环境中的紧张气氛，并为经验丰富的操作员缩短了数据获得周期。
主要特点：
直观的软件
Thermo Scientific Velox 软件可实现对多模式数据的快速、轻松的采集和分析。
更短的化学成分获得周期
快速、精确的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示纳米级细节，同时保持高洁净度。
更好的图像数据
高通量 STEM 成像采用同步多信号检测，可为高质量图像提供更高的对比度。
Maps 软件
Thermo Scientific Maps 软件可通过即时处理以高分辨率进行自动化大面积图像和分析数据采集。
更多空间
为动态实验添加特定用途的原位样品杆。
高质量 (S)TEM 图像和准确的 EDS
通过创新且直观的 Velox 软件用户界面采集高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中独特的 EDS 吸收校正功能可实现极准确的定量。
高度可重复的数据采集
所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的，确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可以能够再现的方式重复进行，从而使您能够专注于研究而非仪器操作。
提高了生产率
超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜，可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。
性能数据
应用
采用电子显微镜进行过程控制
现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM 和 TEM 工具结合专用的自动化软件、为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。
质量控制和故障分析
质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM 和光谱工具、使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。
基础材料研究
越来越小的规模研究新型材料、以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。
半导体探索和开发
先进的电子显微镜、聚焦离子束和相关分析技术可用于识别制造高性能半导体器件的可行解决方案和设计方法。
良率提升和计量
我们为缺陷分析、计量学和工艺控制提供先进的分析功能、旨在帮助提高生产率并改善一系列半导体应用和设备的产量。
半导体故障分析
越来越复杂的半导体器件结构导致更多隐藏故障引起的缺陷的位置。我们的新一代工作流程可帮助您定位和表征影响量产、性能和可靠性的细微的电子问题。
物理和化学表征
持续的消费者需求推动了创建更小型、更快和更便宜的电子设备。它们的生产依赖高效的仪器和工作流程，可对多种半导体和显示设备进行成像、分析和表征。